| Описание ГОСТ 18986.14-85: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений:
метод замещения (метод I);
резонансный метод с параллельным контуром (метод II);
резонансный метод с последовательным контуром (метод III);
мостовой метод (метод IV).
Метод I применяют для измерения дифференциального сопротивления на низкой частоте.
Методы II, III, IV применяют для измерения дифференциального сопротивления на высокой частоте, а также для измерения динамического сопротивления, если значение амплитуды измерительного сигнала равно или меньше значения постоянного напряжения.
Стандарт не распространяется на стабилитроны.
Общие условия при измерении и требования безопасности — по ГОСТ 18986.0-74 и ГОСТ 19656.0-74.
Стандарт соответствует СТ СЭВ 2769-80 в части методов измерения динамического сопротивления (ом. справочное приложение 1).
| 
ГОСТ 18986.14-85.pdf передан 13.08.2007
Справка по системе предоставления документов.
